奔創(chuàng)3D AOI ATHENA:RGB算法賦能高精度缺陷檢測(cè)
發(fā)布時(shí)間:2025-03-05 16:48:45 分類: 新聞中心 瀏覽量:20
在電子制造行業(yè),質(zhì)量檢測(cè)是確保產(chǎn)品性能與可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)
一
奔創(chuàng)3D AOI ATHENA是一款由韓國(guó)奔創(chuàng)公司研發(fā)的高精度自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于電子制造行業(yè)中的表面質(zhì)量檢測(cè)和缺陷檢測(cè)
二
RGB算法是ATHENA設(shè)備中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)
色彩識(shí)別:RGB算法能夠準(zhǔn)確識(shí)別電路板上的不同顏色區(qū)域
缺陷區(qū)分:基于色彩識(shí)別的結(jié)果
提高檢測(cè)效率:傳統(tǒng)的缺陷檢測(cè)方法往往需要操作者具備豐富的經(jīng)驗(yàn)和敏銳的觀察力,而RGB算法的應(yīng)用則大大降低了對(duì)操作者技能的要求
三、RGB算法的優(yōu)勢(shì)
直觀性:RGB算法通過顏色區(qū)分不良缺陷
準(zhǔn)確性:RGB算法基于光學(xué)原理進(jìn)行色彩識(shí)別,具有較高的準(zhǔn)確性和可靠性
靈活性:RGB算法不僅適用于電路板檢測(cè)
奔創(chuàng)3D AOI ATHENA設(shè)備憑借其先進(jìn)的RGB算法